-
波长色散型X射线荧光光谱仪岛津波散型XRF 适用于膜厚测定、薄膜测定
岛津波散型XRFXRF-1800型适用于膜厚测定、薄膜测定项目,参考多项行业标准。可以检测钢板涂层、薄膜等样品。可应用于地矿/有色金属行业领域。 彩色涂层钢板的测定实例;电容器薄膜的测定实例 仪器
-
安东帕 CAT²c/i涂层测厚仪 膜厚测量
的长度后,涂层的厚度D可以通过简单的几何公式计算得出。 膜厚及磨损测试仪Calowear将这个原理更加深了一步。通过监测球体施加在试样上的载荷,我们可以更好的控制薄膜的磨损。研磨液以恒定速率自动滴加在
-
波散型XRF波长色散型X射线荧光光谱仪XRF-1800型 使用XRF-1800进行的膜厚测定、薄膜测定实例
岛津波散型XRFXRF-1800型用于测定钢板涂层、薄膜,符合行业标准。适用膜厚测定、薄膜测定项目。 彩色涂层钢板的测定实例;电容器薄膜的测定实例 250μm微区分布成像分析功能!XRF-1500
-
显微分光膜厚仪
OPTM 系列显微分光膜厚仪头部集成了薄膜厚度测量所需功能通过显微光谱法测量高精度绝对反射率(多层膜厚度,光学常数)1点1秒高速测量显微分光下广范围的光学系统(紫外至近红外)区域传感器的安全机制易于
-
EXPEC 2000 (规格:MIMS)全自动膜进样质谱仪
产品概述EXPEC 2000 (规格:MIMS)全自动膜进样质谱仪是一款对挥发性有机物快速分析的移动监测设备。该设备采用创新的膜进样技术,完成直接进样质谱分析,实现对未知化合物的秒级响应。整机采用
-
奥谱天成ATGX310系列 光学薄膜厚度测量仪 适合测量半导体膜厚测量
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
-
EXPEC 3500(规格 MIMS)移动式膜进样质谱仪
产品概述EXPEC 3500(规格 MIMS)移动式膜进样质谱仪是一款对挥发性有机物快速分析检测的便携式设备。该设备采用独特的膜进样技术,完成直接进样质谱分析,实现对未知化合物的秒级响应。整机
-
OPTM 半导体膜厚测试仪
特长 Features· 膜厚测量中必要的功能集中于头部· 通过显微分光高精度测量绝对反射率(多层膜厚、光学常数)· 1点只需不到1秒的高速tact· 实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外~近
-
膜厚测量仪FE-300
化法解析、*小二乗法解析 选配功能 材料评价软件、薄膜模型解析软件、标准片解析 *1 细规格请咨询 *2 相对于VLSI 公司产膜厚标准(100nm
-
膜厚测量仪FE-3
稳定性白色LED光源测量项目多层膜膜厚解析用途光学薄膜(硬涂层,AR膜,ITO等)FPD相关(resist,SOI,SiO2等)膜厚量测仪FE-3测试实例
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net